製品情報

半導体用

高純度酸化セリウム砥粒

技術力

01
技術ーサイズ

    粒子径御製
10~500nmの粒子径制御技術により、狭い粒度分布と優れた分散性を実現

02
技術ー形

    粒子形状御製
球状・三角形・六角形・立方体など、多様な粒子形状を高精度に制御

03
技術ー生産技術

    多様な製造プロセス
焼成法・ゾル・ゲル法に対応し、複合粒子の開発にも取り組んでいます

04
技術ー全工程

         一貫生産体制
精製から合成、焼成、分散、超精密ろ過まで、一貫生産体制を構築

14nm以上プロセス向けSTI・ILD平坦化用製品

珠峰

14nm以下プロセス向けSTI・ILD平坦化用製品

长江

半導体ウェハースラリー

SiC基板・Siウェーハ向け粗・精研磨用CMPスラリー

半導体スラリー

ベンチマーク評価

評価条件
・使用装置:DSP両面研磨機(16B)
・研磨パッド:DuPont SUBA800
・基板:6インチSiCウェーハ ×14枚
・研磨時間:3時間
・プラテン回転数:35rpm

ベンチマーク評価

当社製品のプロセス別性能

当社製品のプロセス別性能

お問い合わせ

Tel.06-6123-1110

営業時間 10:00-18:00 定休日:土・日曜日